采用冠層分析系統(tǒng)測量冠層數(shù)據(jù)有哪些優(yōu)點？

      植物冠層結構直接影響著植物的許多生物、物理過程，比如說光合作用、呼吸作用、蒸騰作用、碳氮循環(huán)和降水截獲等。因此測定植物的冠層結果，對于提高現(xiàn)代農(nóng)藝水平，有十分重要的意義。一般來說測定植物冠層數(shù)據(jù)主要有兩種方法，第一種是直接測量，第二種是采用冠層分析系統(tǒng)間接測量，而現(xiàn)代農(nóng)業(yè)研究中，多是采用第二種方式來開展測量工作，那么采用冠層分析系統(tǒng)測量冠層數(shù)據(jù)有哪些優(yōu)點呢？

      首先來說說直接測量和間接測量都是如何進行的。直接測量是通過想測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數(shù)屬于毀壞性測量，或至少會干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質量，直接測量費時、費力。間接測量就是利用冠層結構與冠層內輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關系，通過冠層分析系統(tǒng)來測定植物冠層的相關數(shù)據(jù)，通過植物冠層的轉移模型來推斷LAI。

      冠層分析系統(tǒng)是通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用冠層分析系統(tǒng)測量冠層數(shù)據(jù)，可以避免直接測量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點，而且采用儀器進行測量操作，具有方便快捷，不受時間限制，獲取數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點，非常適合用于現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研研究當中，因此目前冠層分析系統(tǒng)被廣泛應用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的 研究與教學工作當中，并在實際工作中發(fā)揮了重要的作用。